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北京哈科检测设备有限公司
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HK-EVM-1510G型 精密影像测量仪

发布时间:2018-07-04 03:43:03        

EVM系列测量仪是我公司生产的精密影像测量仪系列,具有功能强大、性能稳定、精度高、操作简单、维护方便等特点。可将以往用肉眼在传统显微镜下所观察到的影像将其数字化,并将其储存入计算机中作各式量测、绘图再可将所得之资料储存于计算机中,以便日后存盘或电子邮件的发送。该仪器适用于以二座标测量为目的一切应用领域如:品质检测、工程开发、绘图等用途。方便测量前角、后角、螺旋角、齿隙角等专用刀具角度,还可以进行基本几何测量(圆直径、长度、刃宽、芯厚、粗糙度等)。

相对于其他产品系列比较而言,该系列具有结构简单、承载能力强、工件放置空间开阔、装卸便捷等特点。

  1. 型号规格HK-EVM-1510G
  2. 主要技术指标

2.1测量范围:X=150mm,Y=100mm,Z=150mm

2.2金属台尺寸(mm):354×228

2.3玻璃台尺寸(mm):210×160

2.4外型尺寸L*W*H:X=540mm,Y=560mm,Z=850mm

2.5仪器重量:100kg

2.6 X.Y坐标示值误差≤(2.5+L/200)μm(L为被测长度单位:mm)

2.7分辨率:0.0005mm

2.8***大承受重量:30kg

2.9环境要求:

  • 温度范围:20&plu***n;5℃,0.5℃/h
  • 湿度范围:45%-65%
  • 电    源:220V(AC) ,50Hz ,30W

l   产品参数:

l   u  变焦镜筒:采用光学变焦物镜,光学放大倍率0.7X~4.5X,视频总放大倍率40X~400X连续可调,物方视场:10.6-1.6mm,按客户要求选配不同倍率物镜。

l   u  摄像机:配备低照度***机芯1/3′彩色CCD摄像机,图像表面纹理清晰,轮廓层次分明,保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′CMOS130万像素摄像机。

l   u  底座:仪器底座采用高精度天然花岗石,稳定性高,硬度高,不易变形。

l   u  光栅尺:仪器平台带有高精度光栅尺(X,Y,Z三轴),解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。

l   u  光源:采用长寿命LED环形冷光源(表面光及底光),使工件表面照明均匀,边缘清晰,亮度可调。

l   u  导轨:双层工作平台设计,配备高精度滚动导轨,精度高,移动平稳轻松。

l   u  丝杆:X,Y轴工作台均使用无牙光杆摩擦传动,避免了丝杆传动的间隙,灵敏度大大提高,亦可切换快速移动,提高工作效率。

l     

仪器型号

EVM-1510G

EVM-2010G

EVM-2515G

EVM-3020G

EVM-4030G

金属台尺寸(mm)

354×228

404×228

450×280

500×330

606×466

玻璃台尺寸(mm)

210×160

260×160

306×196

350×280

450×350

运动行程(mm)

150×100

200×100

250×150

300×200

400×300

仪器重量(kg)

100

110

120

140

240

外型尺寸L*W*H

756×540×860

670×660×950

720×950×1020

 
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